仪器名称：场发射扫描电子显微镜

仪器型号：MIRA LMS

仪器品牌：TESCAN/捷克

主要配置：

样品室SE探测器、样品室BSE探测器、镜筒内SE探测器、

一键切换SingleVac模式

主要参数：

1）放大倍率2倍-100万倍

2）SE分辨率优于1.0NM，BSE分辨率优于2.0NM

3）加速电压0.2KV-30KV连续可调

4）束流 2PA - 400 NA

特色能力：

MIRA还有一个重要的特点就是集成了无畸变大视野模式，最低倍数可达2x，单张照片的视野范围超过5cm，可以直接进行精确测量，非常适用于塑性较好的材料进行大视野的原位拉伸实验。

仪器名称：电制冷能谱仪

仪器型号：QUANTAX

仪器品牌：布鲁克Bruker/德国

主要配置：

X-Flash硅漂移探测器(SDD)与Hybrid 脉冲处理技术

主要参数：

1）放大倍率2倍-100万倍

2）SE分辨率优于1.0NM，BSE分辨率优于2.0NM

3）加速电压0.2KV-30KV连续可调

4）束流 2PA - 400 NA

特色能力：

可进行点、线、面分析，线扫描，面分布，超级面分布，相分析，颗粒分析，钢铁分析，枪击残留物分析等等。

仪器名称：电子背散射衍射仪

仪器型号：QUANTAX

仪器品牌：布鲁克Bruker/德国

主要配置：

X-Flash硅漂移探测器(SDD)与Hybrid 脉冲处理技术

主要参数：

1）有效的空间分辨率：1.5nm

2）超快获取 FSE、BSE 和 STEM 图像：125000pps

3）测试所需的最大电流：2na

特色能力：

EBSD可以测定晶体取向、取向差、晶粒尺寸、织构、应变分析、晶界特性表征、相识别和相鉴定、断裂分析等。

仪器名称：钨灯丝扫描电子显微镜

仪器型号：VEGA GM

仪器品牌：TESCAN/捷克

主要配置：

样品室SE探测器，一键切换SingleVac模式

主要参数：

1）放大倍率1倍-100万倍

2）SE分辨率优于3.0nm@30kV

3）加速电压0.2KV-30KV连续可调

4）束流 2PA - 400 NA

特色能力：

大视野模式下的最低倍数可以达到惊人的 1x ，单张照片的视野范围可超过10cm。可以观察固体材料的表面形貌，分辦率可以达到纳米级，即可以连续得到几倍到几十万倍的固体表面精细的微区图像

仪器名称：X射线衍射仪

仪器型号：D8 ADVANCE

仪器品牌：布鲁克Bruker/德国

主要配置：

X射线光源、测角仪、二维阵列探测器、粉末衍射聚焦光路、薄膜反射多层膜平行光系统、多层膜平行光系统+GE220单色KA1系统、衍射光路系统、样品台、仪器控制和数据采集系统。

主要参数：

1）THETA/THETA 立式测角仪

2）2THETA角度范围：-110-168°

3）角度精度：0.0001°

4）Cr/Co/Cu靶

特色能力：

1）在金属样品中，残余奥氏体、残余应力和织构检测是其中最常见的检测项目，检测目的在于确保最终产品符合用户需求；

2）从微米厚度的涂层到纳米厚度的外延膜的样品都受益于用于评估晶体质量、薄膜厚度、成分外延排列和应变松弛的一系列技术；

3）原材料到质控，XRD在确保目标产品（包括熟料分析和反应监控）高产方面发挥着关键作用；

4）从药物发现到药物生产，为药品的整个生命周期提供着支持，其中包括结构测定、材料可靠鉴别、配方定量和非环境稳定性测试；

5）通常需要对大量工业材料进行新结构的测定或混合物的定量分析，这其中包括对主要相组分和次要相组分的分析。